在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中，葉面積指數(shù)是植物生產(chǎn)力的一個重要參數(shù)，很多農(nóng)業(yè)種植工作人員都會通過對葉面積指數(shù)的測定來對植物進行合理的農(nóng)事作業(yè)。葉面積指數(shù)的測定方法有很多種，可分為直接測量和間接測量，不過在這些測定方法中，目前市場上應用比較廣泛的就是使用葉面積指數(shù)測定儀來測定，本文就和大家簡單介紹一下葉面積指數(shù)測定儀儀及其他葉面積指數(shù)測定方法。

托普云農(nóng)*300葉面積指數(shù)測定儀采用上一致采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對所得圖像和數(shù)據(jù)進行分析計算，得出冠層相關(guān)指標和參數(shù)。具有準確、省時省力、快捷方便的特點。具體地葉面積指數(shù)測定可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。

當然除了以上所介紹的使用葉面積指數(shù)測定儀來測定葉面積指數(shù)之外，還有其他測定方法，具體如下：

1、點接觸法：點接觸法是用細探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細探針從冠層頂部到達底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

　　2、消光系數(shù)法：該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來計算葉面積指數(shù)。

　　3、經(jīng)驗公式法：經(jīng)驗公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗公式來計算。

　　4、遙感方法：衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計模型法。另一種是光學模型法。

　　5、光學儀器法：光學儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法。zs